Certech a fait l’acquisition d’un nouveau métalliseur permettant de rendre les surfaces conductrices pour l’observation par microscopie électronique à balayage. Divers métaux, comme l’or ou le platine, peuvent être déposés, afin de former un film mince épousant la topographie des échantillons. Ce film a pour effet de réduire la charge de surface et la dégradation sous le faisceau, ainsi que d’augmenter le signal émis pour l’imagerie. Cet instrument peut aussi être utilisé pour déposer un film conducteur en carbone, plus spécifiquement pour la microanalyse EDX.
Acquisition d’un métalliseur pour l’observation SEM
Certech dispose d’un parc analytique permettant la caractérisation complète des matériaux (propriétés chimiques, physiques, sensorielles) incluant la caractérisation structurale et texturale: granulométrie, porosimétrie (BET), structure cristalline (DRX), rugosimétrie (profilomètre optique et mécanique), perméabilité, mouillabilité (angle de contact, potentiel zeta), résistance à l’usure (scratch, abrasimètre), microscopie optique, microscopie électronique à balayage FEG-SEM-EDX, cryo-ultramicrotomie, microscopie électronique à transmission EFTEM.